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                                        • FR-Scanner掃描型薄膜在線測厚儀

                                          品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。

                                          訪問次數:1327
                                          產品價格:面議
                                          廠商性質:代理商
                                          更新日期:2023-11-12
                                        • FR-pRo基礎型膜厚儀(紫外/近紅外-高分辨率)

                                          品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。

                                          訪問次數:2077
                                          產品價格:面議
                                          廠商性質:代理商
                                          更新日期:2023-11-12
                                        • FR-portable便攜式光學膜厚儀

                                          品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。

                                          訪問次數:4482
                                          產品價格:面議
                                          廠商性質:代理商
                                          更新日期:2023-11-12
                                        • FR-uProbe微米級光學薄膜測厚儀

                                          品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精

                                          訪問次數:1499
                                          產品價格:面議
                                          廠商性質:代理商
                                          更新日期:2023-11-12
                                        • FR-Basic UV/NIR-HR膜厚儀

                                          品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。

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                                          廠商性質:代理商
                                          更新日期:2023-11-12
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